Dettaglio Laboratorio

 LMNT (Laboratorio di Scienza dei Materiali e NanoTecnologie) e  INMATE2 (INnovative MATErials for Energy and Environment) 

Strumentazione:

• DIFFRATTOMETRO (BRUKER "D8 DISCOVER") 

lo strumento è ottimizzato per film e

 ciprimenti sottili. Oltre alle tradizionali informzioni che rigurdano la cristallinità del ricoprimento, permette di misurare lo spessore del film, la sua eventuale porosità e la rugosità superficiale.

• MICROSCOPIO A FORZA ATOMICA NT-MDT “Ntegra” 

Lo strumento permette di misurare la morfologia superficiale di un campione su scala nanometrica. 

• ELLISSOMETRO SPETTROSCOPICO (WOLLAM, TIPO "ALFA") 

misurare densità, spessore ed indice di rifrazione per ricoprimenti sottili o multilayer fino a diversi micron di spessore.

• MICROSCOPIO INFRAROSSO HYPERION 2000 (BRUKER) 

Analisi qualitativa della composizione di compositi organici e inorganici con informazioni legati alla morfologia e alla struttura su scala micrometrica dei campioni.

• MICROSCOPIO CONFOCALE RAMAN BRUKER SENTERRA

Analisi qualitativa della composizione di compositi organici e inorganici con informazioni legati alla morfologia e alla struttura su scala micrometrica dei campioni. Rispetto alla microscopia infrarossa, la microscopia confocale raman ha una risoluzione spaziale più elevata.

• DIP-COATER 

Strumento dedicato alla deposizione di ricoprimenti sottili, inorganici, bilogici o ibridi organico-inorganici  da fase liquida

• SPIN-COATER SPECIALTY COATING SYSTEM TIPO G3P-8A  

Permette di ricoprire sia substrati grandi che piccoli (da 0.5 a 15 cm2). Lo strumento permette anche di programmare diversi cicli di deposizione-essicamento in modo da facilitare deposizioni multistrato

• FORNI PER TRATTAMENTI TERMICI

Consolidamento di materiali e ricoprimenti ottenuti da fase liquida.

• ANALIZZATORE DI ANGOLO DI CONTATTO DATAPHYSICS OCA 20;

Caratterizzare le proprietà di aderenza (bagnabilità)  di liquidi polari e apolari

• MICRO-X RAY SPECTROFLUOROMETER BRUKER M4 TORNADO 

lo strumento permette di analizzare in modo non distruttivo la composizione chimica di campioni di media grandezza, ottenendo informazioni sulla distribuzione spaziale degli elementi chimici su scala micrometrica. Può essere utilizzato per l'analisi di dispositivi elettronici e di manufatti metallici.

• SPETTROFOTOMETRO UV-VIS THERMO NICOLET “EVOLUTION 3000

Misura l'assorbimento nello spettro visibile di materiali e liquidi semitrasparenti 

• SPETTROFLUORIMETRO “HORIBA JOBIN-YVON” NANOLOG 

Misurare le proprietà di fluorescenza di campioni solidi e liquidi.

• ANALIZZATORE DI PARTICELLE DYNAMIC LIGHT SCATTERING “HORIBA JOBIN-YVON” LB-550 CON VISCOSIMETRO

Misurare la dimensione e la dispersione di dimensioni di particelle in fase liquida

• ANALIZZATORE DI AREA SUPERFICIALE QUANTACHROME AUTOSORB IQ-MP 

Misurare la l'area superficiale, la dimensione e la forma dei pori di materiali dotati di nanoporosità

• STRUMENTO PER ANALISI TERMICHE (TGA) E CALORIMETRICHE DIFFERENZIALI (DSC) SIMULTANEE (TA INSTRUMENTS SDT Q600)

Studiare le proprietà termiche e la degradazione termica dei materiali in funzione della temperatura

• MICROINDENTATORE CSM INSTRUMENTS

Caratterizzazione delle proprietà meccaniche (durezza e modulo di Young) di film sottili

Indirizzo:
Via Vienna 2, Sassari